Cagliari, 16-17-18 Giugno 2010
SIFET 2010
IL CATASTO NEL 2010: DALLA TOPOGRAFIA ALLA GEOMATICA
Cagliari-Sighientu Village 16-17-18 Giugno 2010
L'obiettivo del convegno è offrire un quadro aggiornato delle tecniche di rilevamento per l'aggiornamento della base cartografica catastale e delle problematiche connesse alla sua gestione.
Come ogni anno Planetek Italia partecipa al Convegno SIFET presentando applicazioni e soluzioni allo stato dell’arte dedicate alla fotogrammetria. Oltre ad un approfondimento sul nuovo modulo LPS eATE, quest’anno sarà affrontato il tema dell’ortorettifica di fotogrammi aerei in assenza dei certificati di calibrazione. Per un’anteprima delle case histories scarica il PDF dal sito web http://www.planetek.it/lps/
Per dettagli su come partecipare e sul programma vai al link: